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计量器具校准福州-检测单位
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-01 00:24:46
计量器具校准福州-检测单位计量器具校准福州-检测单位
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
在数控机床中,采用 永磁交流伺服代替异步变频驱动似乎已成为标准。年代以来,欧美各国致力发应用高速数控机床,在相同分辨率的情况下,工作台的进给速度获得到大大提升。当今数控系统机床更是突出高速、高精度、高动态、高刚性的特点。我们已经看到国产伺服在经济型的数控机床上的应用,但在中 机床上国产伺服仍达不到要求,性能是一个重要方面,稳定性和品牌效应也是短时间内无法跨越的障碍。机器人也是伺服系统应用较多的领域,工业机器人拥有多个自由度,因此每台工业机器人需要的伺服电机少则3-4台,多则1台以上。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
在数控机床中,采用 永磁交流伺服代替异步变频驱动似乎已成为标准。年代以来,欧美各国致力发应用高速数控机床,在相同分辨率的情况下,工作台的进给速度获得到大大提升。当今数控系统机床更是突出高速、高精度、高动态、高刚性的特点。我们已经看到国产伺服在经济型的数控机床上的应用,但在中 机床上国产伺服仍达不到要求,性能是一个重要方面,稳定性和品牌效应也是短时间内无法跨越的障碍。机器人也是伺服系统应用较多的领域,工业机器人拥有多个自由度,因此每台工业机器人需要的伺服电机少则3-4台,多则1台以上。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
计量器具校准福州-检测单位
对TBC试件进行早期无损检测具有重大意义。实验原理根据Grzegorz采用盲孔缺陷代替脱粘缺陷进行分析的方法,在对TBC脱粘缺陷的检测实验中,通常在TBC试件的金属基底上盲孔缺陷来模拟真实的脱粘缺陷。本文的线激光扫描热成像方法分为粗扫描阶段和细扫描阶段。在粗扫描阶段的检测原理中,LLFST系统能够在TBC试件表面汇聚出激光点,控制激光点以直线方向高速。当扫描速度足够快且线状时,激光点可以看作是线激光。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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对TBC试件进行早期无损检测具有重大意义。实验原理根据Grzegorz采用盲孔缺陷代替脱粘缺陷进行分析的方法,在对TBC脱粘缺陷的检测实验中,通常在TBC试件的金属基底上盲孔缺陷来模拟真实的脱粘缺陷。本文的线激光扫描热成像方法分为粗扫描阶段和细扫描阶段。在粗扫描阶段的检测原理中,LLFST系统能够在TBC试件表面汇聚出激光点,控制激光点以直线方向高速。当扫描速度足够快且线状时,激光点可以看作是线激光。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
计量器具校准福州-检测单位
无校验位,8位数据位,串口时序图如所示为STM32串口外设检测到起始位的条件,当检测到下降沿(3个高电平+1个低电平)并且采样序列1和采样序列2均为0时,STM32检测到一个起始位。每个位采样16次,采样点的间隔时间为tbit/16,tbit为每个位的时间,通信波特率为11 .68us,则采样点的间隔时间为8.68us/16=0.25us。STM32串口外设检测到起始位的条件下面以RSM485PCHT的门限电平为例进行说明,当AB差分电压处于±200mV之内时,模块RXD引脚输出状态不确定。
无校验位,8位数据位,串口时序图如所示为STM32串口外设检测到起始位的条件,当检测到下降沿(3个高电平+1个低电平)并且采样序列1和采样序列2均为0时,STM32检测到一个起始位。每个位采样16次,采样点的间隔时间为tbit/16,tbit为每个位的时间,通信波特率为11 .68us,则采样点的间隔时间为8.68us/16=0.25us。STM32串口外设检测到起始位的条件下面以RSM485PCHT的门限电平为例进行说明,当AB差分电压处于±200mV之内时,模块RXD引脚输出状态不确定。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
计量器具校准福州-检测单位巴特沃斯滤波器拓扑切比雪夫滤波器拓扑图分别对应他们的端口阻抗与驻波比。巴特沃斯滤波器的SmitVSWR及S21切比雪夫滤波器的SmitVSWR及S21这里可以清楚的看到在史密斯圆环中,两种滤波器不同频率下的阻抗并不相同,巴特沃斯滤波器伴随着频率的增加,阻抗偏离匹配点;而切比雪夫滤波器因为有谐振电路引起阻抗的突变的,所以阻抗会围绕在匹配点附近小范围变化,这就导致切比雪夫滤波器的可用频段比巴特沃斯滤波器更多。
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